Catalogus
Volledige afbeeldingen bekijken — gratis registratie
Doorgaan met Google — het is gratis
of registreer met e-mail
Waarom registreren? Alleen om bots buiten ons catalogus te houden. Uw e-mail blijft privé — we delen het nooit en sturen u niets zonder uw toestemming. Dat garanderen wij u!
Denier - Sieciech Kraków or Sieciechów mint
| Uitgever | Kingdom of Poland |
|---|---|
| Jaar | 1090-1100 |
| Type | Standard circulation coin |
| Waarde | Log in om details te zien |
| Valuta | Log in om details te zien |
| Samenstelling | Log in om details te zien |
| Gewicht | Log in om details te zien |
| Diameter | Log in om details te zien |
| Dikte | Log in om details te zien |
| Vorm | Log in om details te zien |
| Techniek | Log in om details te zien |
| Oriëntatie | Log in om details te zien |
| Graveur(s) | Log in om details te zien |
| In omloop tot | Log in om details te zien |
| Referentie(s) | Log in om details te zien |
| Beschrijving voorzijde | Log in om details te zien |
|---|---|
| Schrift voorzijde | Latin |
| Opschrift voorzijde | +ZETEH |
| Beschrijving keerzijde | Plain hammered field displaying a bold composite symbol in high relief, consisting of a crescent or lunate form to the left, a prominent letter or monogram resembling 'M' to the upper right, and a cross or anchor-like device with triangular lower elements occupying the centre and lower field. This abstract arrangement of symbolic devices is characteristic of the heraldic or ownership marks employed on Polish deniers of the Sieciech issue, possibly alluding to the palatine's personal emblem or mint mark. The flan exhibits edge splits and irregular shaping typical of hand-struck coins of this era. The field surface is worn and granular, consistent with circulation and the low-relief die-work of the period. |
| Schrift keerzijde | Log in om details te zien |
| Opschrift keerzijde | Log in om details te zien |
| Rand | Log in om details te zien |
| Muntplaats | Log in om details te zien |
| Oplage | Log in om details te zien |
| Aanvullende informatie | Log in om details te zien |